HAST可靠性試驗機，高加速壽命試驗箱用途：
   高加速老化試驗箱是為評估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。這是一種高度加速試驗，在非冷凝條件下利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護材料（封裝材料或密封件）或沿著外部保護材料和金屬導體之間的界面滲透。該試驗依據(jù)JEDEC 22標準，此測試用于識別封裝內部的故障機制，具有破壞性。
   HAST高加速老化試驗箱主要用于對電工、電子產品、半導體、IC芯片、固態(tài)存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、元器件、零部件、金屬材料、塑料晶體管外形封裝等產品測試。
HAST可靠性試驗機，高加速壽命試驗箱技術性能：

溫度范圍: 105℃～147℃( 蒸氣溫度 )

濕度范圍: 75~100 % （蒸氣濕度）
濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

時間范圍: 0Hr～999 Hr

加壓時間: 0.00 Kg ～1.04 Kg/cm2約45 分
溫度波動均勻度: ±2℃

溫度顯示精度：0.1℃

壓力波動均勻度 : ±0.1Kg

濕度分布均度：±3%RH
內尺寸:Φ380mmxL500mm，大于50L
內桶材質: SUS# 316不銹鋼板材質
外箱材質: 冷軋板噴塑