烘箱,精密烘箱用于半導(dǎo)體制造中硅片、砷化鎵、鈮酸鋰、玻璃等材料預(yù)處理烘烤;也適用于電子液晶顯示、LCD、CMOS、IS、醫(yī)藥、實(shí)驗(yàn)室等生產(chǎn)及科研部門;也可用于非揮發(fā)性及非易燃易爆物品的干燥、熱處理、老化等其他高溫試驗(yàn)。
烘箱,精密烘箱簡(jiǎn)介:
用于半導(dǎo)體制造中硅片、砷化鎵、鈮酸鋰、玻璃等材料預(yù)處理烘烤;也適用于電子液晶顯示、LCD、CMOS、IS、醫(yī)藥、實(shí)驗(yàn)室等生產(chǎn)及科研部門;也可用于非揮發(fā)性及非易燃易爆物品的干燥、熱處理、老化等其他高溫試驗(yàn)。
烘箱,精密烘箱技術(shù)指標(biāo):
內(nèi)尺寸:600(W)×900(H)×500(D)mm可自定;
外尺寸:以實(shí)物為準(zhǔn);
內(nèi)部材質(zhì)為:鏡面不銹鋼板;
外部材質(zhì)為:鋼板粉體烤漆;
門開啟方式:門由右至左開啟;
通風(fēng)口孔式:可調(diào);
控制箱:位于機(jī)臺(tái)上方;
合頁:U型合頁;
門鎖:長(zhǎng)鎖式;
保溫:耐高溫硅酸鋁棉;
密封條:耐高溫硅膠條;
觀測(cè)窗:無鋼化玻璃窗口;
柵板:內(nèi)分八層,配網(wǎng)板四片;
機(jī)臺(tái)安裝有帶剎車活動(dòng)輪腳;
溫度范圍:常溫-300度。
一、高低溫試驗(yàn)箱,微型高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn)及用途:
高低溫試驗(yàn)箱適用于IC,PCB板、晶圓,可控硅,半導(dǎo)體,電阻、電容、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),考核其各項(xiàng)性能指標(biāo)。可單獨(dú)做高溫、低溫;也可用于高溫、低溫的循環(huán)試驗(yàn)。
《GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
《GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
《GB/T 2421/2/3/4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》
《GJB 150A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法》
《GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法》
《JJF 1101-2003 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》
《GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》
二、高低溫試驗(yàn)箱,微型高低溫試驗(yàn)箱主要技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍: -75、-40℃~150℃;
2、溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃;
3、溫度均勻度:≤±2℃ ;
4、內(nèi)腔尺寸(W×H×D):300×300×225 (mm);
5、外形尺寸(W×H×D):460×910×785 (mm);
6、電源: 220V 50Hz 1.5KW。
三、結(jié)構(gòu):
1、箱體采用CNC數(shù)位工作母機(jī)成型,造型美觀大方;
2、箱體內(nèi)部采用SUS304鏡面不銹鋼板,外部采用SECC鋼板噴塑處理,以
增加外觀質(zhì)感及潔凈度;
3、大型觀察窗,配有照明燈,保持箱內(nèi)明亮,利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式玻璃,隨時(shí)保持清
晰的觀測(cè)箱內(nèi)的狀況;
4、機(jī)器底部采用高質(zhì)量可固定式活動(dòng)輪,以便固定及移動(dòng)之用。
四、高低溫試驗(yàn)箱,微型高低溫試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):
1、控制系統(tǒng):可編程控制器+觸摸屏;
2、溫度控制:采用P.I.D.+S.S.R.系統(tǒng)同步協(xié)調(diào)控制,可提高控制組件與界面使用之穩(wěn)定性及壽命;
3、程序控制:定點(diǎn)控制、程序控制;
4、遠(yuǎn)程控制:具備RS232接口,可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程網(wǎng)絡(luò)控制;
5、數(shù)據(jù)存儲(chǔ):具備USB接口,全部運(yùn)行數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ),并可實(shí)現(xiàn)自由導(dǎo)出。